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QSense 耗散型石英晶體微天平（QCM-D）QSense® ALD模塊（原子層沉積）樣品架設(shè)計(jì)用于在真空或氣相中進(jìn)行QCM-D測量。

PTFE流動(dòng)模塊可用于一些試劑或分子對鈦金屬敏感或者會(huì)發(fā)生相互作用的流動(dòng)或靜止實(shí)驗(yàn)。PTFE 流動(dòng)模塊與QSense®標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)模塊QFM 401類似，但使用PTFE（類似Teflon®）來取代金屬鈦部 件。

QSense®窗口模塊允許光線通過藍(lán)寶石窗口進(jìn)入芯片表面，從而能夠進(jìn)行紫外誘導(dǎo)反應(yīng)和顯微鏡聯(lián)用實(shí)驗(yàn)。

QSense®開放模塊的設(shè)計(jì)是允許在某些應(yīng)用中樣品可直接進(jìn)入芯片表面，例如通過移液器將樣品直接滴加于芯片表面。當(dāng)不需要流動(dòng)條件時(shí)，也可用于快速吸附測試或其他實(shí)驗(yàn)。

QSense 耗散型石英晶體微天平（QCM-D）QSense®濕度模塊可用于測量芯片表面涂覆的薄膜對氣體的吸收與釋放。

在QSense Explorer和QSense Analyzer系統(tǒng)中均包含標(biāo)準(zhǔn)QSense流動(dòng)模塊。